- 专利标题: 一种单粒子翻转故障模拟系统、方法及存储介质
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申请号: CN202111171013.1申请日: 2021-10-08
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公开(公告)号: CN114090362B公开(公告)日: 2024-09-17
- 发明人: 王振 , 王科 , 周论 , 于航 , 洪柱 , 肖志康
- 申请人: 武汉工程大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号
- 专利权人: 武汉工程大学
- 当前专利权人: 武汉工程大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号
- 代理机构: 北京轻创知识产权代理有限公司
- 代理商 尉保芳
- 主分类号: G06F11/26
- IPC分类号: G06F11/26
摘要:
本发明提供一种单粒子翻转故障模拟系统、方法及存储介质,包括上位机和下位机,上位机用于导入原始数据、翻转配置信息和标志位信息,并根据标志位信息对原始数据和翻转配置信息的编码分析得到编码信息,并将编码信息发送至下位机,下位机用于接收编码信息,并对编码信息的解码分析得到解码数据,通过构建的模拟故障翻转电路对解码数据的单粒子翻转故障模拟得到模拟后数据,计算解码数据与模拟后数据之间的误码率,并将模拟后数据以及误码率作为模拟结果。本发明能够节约处理系统的板上资源,也增加了数据处理和传输的可靠性,对于占有大比例板上资源的测试电路具有很高的实用性,对于实现模拟单粒子翻转的测试方法提供了指导意义。
公开/授权文献
- CN114090362A 一种单粒子翻转故障模拟系统、方法及存储介质 公开/授权日:2022-02-25