- 专利标题: 用于ELEMENT GD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法
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申请号: CN202111562719.0申请日: 2021-12-20
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公开(公告)号: CN114112602A公开(公告)日: 2022-03-01
- 发明人: 杨斌 , 赵晋阳 , 徐宝强 , 陈秀敏 , 杨红卫 , 吴鉴 , 蒋文龙 , 孔令鑫 , 刘红武 , 段梦平
- 申请人: 昆明理工大学
- 申请人地址: 云南省昆明市五华区学府路253号
- 专利权人: 昆明理工大学
- 当前专利权人: 昆明理工大学
- 当前专利权人地址: 云南省昆明市五华区学府路253号
- 代理机构: 昆明同聚专利代理有限公司
- 代理商 谢丹丹
- 主分类号: G01N1/28
- IPC分类号: G01N1/28 ; G01N27/68
摘要:
本发明公开了一种用于ELEMENT GD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法,首先将待测样品超声洗净,使用气体吹干,然后选择坩埚进行熔料,该熔料过程在石英管中进行通入惰性气体防止氧化,温度为高于待测样品熔点温度,保证其充分融化停止加热,在惰性气体保护下自然冷却,再使用线切割机将坩埚高出待测样品的部分切掉,使坩埚外壁不高于待测样品顶面,使用清洗剂将待测样表面处理干净,吹干,即可得到满足测试要求的样品,本发明可较容易的解决量少的易碎样品在使用ELEMENT GD辉光放电质谱仪测试过程中,难以制样及样品易碎裂导致测试信号不稳定、断流、无法正常测试的问题,降低了该类样品的制样难度和检测难度,提高了测试的成功率及准确性。
公开/授权文献
- CN114112602B 用于ELEMENT GD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法 公开/授权日:2023-12-22