发明授权
- 专利标题: 分析装置以及分析方法
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申请号: CN202080049766.2申请日: 2020-04-08
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公开(公告)号: CN114127549B公开(公告)日: 2024-08-16
- 发明人: 松下祐福 , 岸冈淳史 , 山本遇哲 , 三宅雅文
- 申请人: 株式会社日立高新技术
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 许静; 范胜杰
- 国际申请: PCT/JP2020/015773 2020.04.08
- 国际公布: WO2021/014695 JA 2021.01.28
- 进入国家日期: 2022-01-04
- 主分类号: G01N27/416
- IPC分类号: G01N27/416
摘要:
本公开提供一种能够解析使用了离子选择性电极的分析装置中的异常的分析装置。本公开为一种测定试样中的离子浓度的分析装置,其特征在于,具有:离子选择性电极,其得到基于所述离子浓度的电位;参比电极,其得到基于参照液的电位;测定部,其测定所述离子选择性电极与所述参比电极之间的电动势;解析部,其进行针对规定的时间区域中的所述电动势的电位变化的解析;存储部,其储存表示所述电位变化与所述分析装置的异常的关系的异常解析数据,所述解析部取得针对由所述测定部测定出的所述电动势的所述电位变化的参数,基于所述参数、储存在所述存储部中的所述异常解析数据,解析所述分析装置的异常。
公开/授权文献
- CN114127549A 分析装置以及分析方法 公开/授权日:2022-03-01