产品缺陷数据分析方法、系统、电子设备及可读存储介质
Abstract:
本发明涉及工业检测技术领域,公开了一种产品缺陷数据分析方法、系统、电子设备及可读存储介质,该方法包括各模型训练参与方通过多个带有缺陷类型标签的缺陷数据样本对模型训练参与方对应的第二预设网络模型进行训练获得模型中间参数,并通过若干个模型中间参数对第一预设网络模型进行更新获得缺陷类型识别模型,通过获取待识别产品缺陷数据以及生产现场数据,根据缺陷类型识别模型确定待分析缺陷数据的产品缺陷类型,并通过第一预设缺陷知识图谱对产品缺陷类型和生产现场数据进行检索,将检索结果确定为缺陷分析结果,相较于人工进行产品缺陷检测,提高了产品缺陷检测的效率。
Patent Agency Ranking
0/0