Invention Grant
- Patent Title: 产品缺陷数据分析方法、系统、电子设备及可读存储介质
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Application No.: CN202111525331.3Application Date: 2021-12-14
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Publication No.: CN114169248BPublication Date: 2023-03-14
- Inventor: 王晓虎 , 张蕾 , 冉猛 , 汪哲逸
- Applicant: 广域铭岛数字科技有限公司 , 浙江吉利控股集团有限公司
- Applicant Address: 重庆市渝北区金开大道西段106号10幢24层;
- Assignee: 广域铭岛数字科技有限公司,浙江吉利控股集团有限公司
- Current Assignee: 广域铭岛数字科技有限公司,浙江吉利控股集团有限公司
- Current Assignee Address: 重庆市渝北区金开大道西段106号10幢24层;
- Agency: 上海光华专利事务所
- Agent 李铁
- Main IPC: G06F30/27
- IPC: G06F30/27 ; G06F119/18

Abstract:
本发明涉及工业检测技术领域,公开了一种产品缺陷数据分析方法、系统、电子设备及可读存储介质,该方法包括各模型训练参与方通过多个带有缺陷类型标签的缺陷数据样本对模型训练参与方对应的第二预设网络模型进行训练获得模型中间参数,并通过若干个模型中间参数对第一预设网络模型进行更新获得缺陷类型识别模型,通过获取待识别产品缺陷数据以及生产现场数据,根据缺陷类型识别模型确定待分析缺陷数据的产品缺陷类型,并通过第一预设缺陷知识图谱对产品缺陷类型和生产现场数据进行检索,将检索结果确定为缺陷分析结果,相较于人工进行产品缺陷检测,提高了产品缺陷检测的效率。
Public/Granted literature
- CN114169248A 产品缺陷数据分析方法、系统、电子设备及可读存储介质 Public/Granted day:2022-03-11
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