发明公开
- 专利标题: 一种考虑偏心工况的GIS触指电接触劣化模拟试验系统
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申请号: CN202111548391.7申请日: 2021-12-17
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公开(公告)号: CN114236375A公开(公告)日: 2022-03-25
- 发明人: 杨为 , 朱太云 , 柯艳国 , 胡迪 , 赵恒阳 , 张国宝 , 蔡梦怡 , 吴正阳 , 王青于 , 谢韬 , 彭宗仁
- 申请人: 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 , 国网安徽省电力有限公司 , 西安交通大学
- 申请人地址: 安徽省合肥市经济技术开发区紫云路299号; ;
- 专利权人: 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院,国网安徽省电力有限公司,西安交通大学
- 当前专利权人: 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院,国网安徽省电力有限公司,西安交通大学
- 当前专利权人地址: 安徽省合肥市经济技术开发区紫云路299号; ;
- 代理机构: 西安智大知识产权代理事务所
- 代理商 季海菊
- 主分类号: G01R31/327
- IPC分类号: G01R31/327
摘要:
一种考虑偏心工况的GIS触指电接触劣化模拟试验系统,包括密封罐体及其內设置的偏心加载装置,偏心加载装置一侧通过联动杆,穿过密封罐体,侧壁与微动行程加载装置相连接,偏心加载装置顶部通过导线,与电流加载装置相连接的密封罐体一侧还连接有腔内气体组分检测单元;通过微动行程加载装置驱动母头摩擦电极柱,能够使母头摩擦电极柱做往复滑移运动,公头摩擦电极柱和母头摩擦电极柱均与电流加载装置连接;利用电流加载装置能够为触指施加与一定范围的电流载荷,模拟通流大小对触指电接触劣化过程的影响;利用密封罐体上的气体进出口可向密封罐体内充入与触指实际工况相同的气氛,利用加热装置能够模拟触指实际可能存在的不同温度工况本发明能够用于研究多因素耦合作用下触指的劣化机理。