Mura缺陷补偿方法、装置、设备和存储介质
摘要:
本申请提供一种Mura缺陷补偿方法、装置、设备和计算机可读存储介质,本申请中的Mura缺陷补偿方法包括:对Mini‑LED显示屏中显示分区的灰阶检测画面进行Mura分析,得到显示分区的Mura缺陷信息;根据Mura缺陷信息确定显示分区的灰阶偏离等级;基于灰阶偏离等级对显示分区进行背光亮度补偿,消除显示分区的Mura缺陷。本申请中的Mura缺陷补偿方法能够实现在仅通过调整Mini‑LED显示屏的背光亮度情况下解决因显示屏Mura缺陷和Mini‑LED背光区域亮暗不均导致的显示屏整体的Mura缺陷进行Mura缺陷补偿,优化Mini‑LED显示屏显示效果,提高Mini‑LED显示屏产品的生产效率。
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