Invention Grant
- Patent Title: 屏幕损伤缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质
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Application No.: CN202210203559.9Application Date: 2022-03-03
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Publication No.: CN114264669BPublication Date: 2022-05-17
- Inventor: 毛涌 , 王雷 , 李渊 , 江宝焜
- Applicant: 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
- Applicant Address: 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号;
- Assignee: 武汉精立电子技术有限公司,武汉精测电子集团股份有限公司
- Current Assignee: 武汉精立电子技术有限公司,武汉精测电子集团股份有限公司
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号;
- Main IPC: G01N21/95
- IPC: G01N21/95 ; G01N21/01
Abstract:
本申请涉及一种屏幕损伤缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质,涉及屏幕缺陷检测技术领域,包括获取第一图像和第二图像,第一图像为屏幕在视觉光源下被拍摄的图像,第二图像为屏幕自发光后被拍摄的图像;分别对第一图像和第二图像进行可疑缺陷区域的标识处理,得到处理后的第一图像和第二图像;将处理后的第二图像映射至处理后的第一图像上,在处理后的第一图像上提取与处理后的第二图像上的可疑缺陷区域存在交集的第一可疑缺陷区域;当检测到第一可疑缺陷区域的特征值大于预设的目标缺陷特征阈值时,则第一可疑缺陷区域为目标缺陷。本申请不仅可提高对缺陷的提取精度,还可有效降低检测难度和成本并缩短检测耗时。
Public/Granted literature
- CN114264669A 屏幕损伤缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质 Public/Granted day:2022-04-01
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