Invention Publication
- Patent Title: 基于邻域直线相切约束的线结构光短圆弧测量方法
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Application No.: CN202111532864.4Application Date: 2021-12-15
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Publication No.: CN114266005APublication Date: 2022-04-01
- Inventor: 邓正平 , 葛英飞 , 黄瑞
- Applicant: 南京工程学院
- Applicant Address: 江苏省南京市江宁区弘景大道1号
- Assignee: 南京工程学院
- Current Assignee: 南京工程学院
- Current Assignee Address: 江苏省南京市江宁区弘景大道1号
- Agency: 南京源古知识产权代理事务所
- Agent 郑宜梅
- Main IPC: G06F17/11
- IPC: G06F17/11 ; G06F17/16 ; G01B11/25

Abstract:
本发明公开了基于邻域直线相切约束的线结构光短圆弧测量方法包括:使用线激光传感器获取滑轨轮廓点坐标;根据所提取滑轨轮廓点坐标,设置进行有效直线、圆弧提取及满足两者相切约束的阈值;根据所提取滑轨轮廓点坐标使用RANSAC算法和最小二乘拟合算法,计算获取每条直线方程参数;根据所提取滑轨轮廓点坐标使用RANSAC算法和最小二乘拟合算法,计算获取每个拟合圆参数;根据满足直线与圆弧相切的阈值比较圆弧点到相切直线的距离,获取所有潜在的相切直线;根据邻域直线相切约束条件,获得拟合圆弧。本发明的方法通过提取滑轨轮廓点坐标,获得了检测精度高的滑轨点云,采用相切直线约束的圆弧拟合,基于此方法拟合效果更好。
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