发明公开
- 专利标题: 一种锦丝线寿命测试仪与测试系统及测试方法
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申请号: CN202111545275.X申请日: 2021-12-16
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公开(公告)号: CN114354413A公开(公告)日: 2022-04-15
- 发明人: 黄清宏 , 谢双要
- 申请人: 惠州市金山电子有限公司
- 申请人地址: 广东省惠州市仲恺高新技术产业开发区
- 专利权人: 惠州市金山电子有限公司
- 当前专利权人: 惠州市金山电子有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省惠州市仲恺高新技术产业开发区
- 代理机构: 广州粤高专利商标代理有限公司
- 代理商 李远星
- 主分类号: G01N3/38
- IPC分类号: G01N3/38
摘要:
本发明公开了一种锦丝线寿命测试仪与测试系统及测试方法。本发明的锦丝线寿命测试仪可有效避免锦丝线的夹伤,并可保证锦丝线的摆动与实际使用场景的摆动高度符合,同时使锦丝线在通入电流时可在磁场作用下产生安培力而发生摆动,以进行锦丝线的寿命测试,可根据需要调整磁场强度以调节锦丝线的受力大小。本发明的锦丝线寿命测试系统可实现锦丝线的摇摆速度、转速、弧度、角度、负重、负载电流等与实际使用场景高度符合的寿命测量,且可实现两种以上试验条件的交替循环测试,提高锦丝线的寿命测试精度。本发明的锦丝线寿命测试方法,基于上述的锦丝线寿命测试系统进行测试,摒弃传统的马达机械驱动摆动,可实现锦丝线高度符合使用场景的高精准测试。