一种大米加工精度检测方法及系统，检测方法包括：S1：通过白光干涉测量仪，对大米进行表面处理，获得基础表面和测量表面；测量表面为大米的朝向白光干涉测量仪一面的真实表面，基础表面为根据测量表面进行拟合平面化处理后的模拟平面；S2：基于基础表面以及测量表面上的采样点得出多个大米的表面参数，表面参数包括平均值、最大距离以及均方根；平均值表示多个采样点高度差的绝对值的平均值，最大距离表示多个采样点中最大峰高和最大谷深的和，均方根表示多个采样点高度的均方根；S3：基于表面参数计算大米的样品表面留皮度；S4：根据样品表面留皮度判断大米加工精度。本发明可实现快速、客观、非接触的大米的加工精度判定。