- 专利标题: 用于少样本故障诊断的具有自适应学习率的元学习方法
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申请号: CN202210067075.6申请日: 2022-01-20
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公开(公告)号: CN114418117B公开(公告)日: 2024-05-28
- 发明人: 林焱辉 , 常亮
- 申请人: 北京航空航天大学
- 申请人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 代理机构: 北京孚睿湾知识产权代理事务所
- 代理商 韩燕
- 主分类号: G06N20/00
- IPC分类号: G06N20/00 ; G06F18/214 ; G06F18/241 ; G06F30/27
摘要:
本发明提供一种用于少样本故障诊断的具有自适应学习率的元学习方法,其包括以下步骤:确定相关超参数;对模型参数随机初始化;进行元训练包括:外循环迭代次数中嵌套内循环,在内循环迭代中,采样形成子任务,根据内循环中子任务的参数更新次数Γ计算得到参数#imgabs0#计算样本的交叉熵损失,内循环结束后计算特征间多核最大均值差异并更新模型参数;进行精调循环包括:计算自适应的精调学习率,计算精调损失函数,最后得到用于目标任务故障诊断的模型并结束。本发明提出了用于元训练和精调的两种自适应学习率,并改进了元训练和精调的损失函数,解决了少样本学习中的过拟合和欠拟合问题,并且使模型具有更强的泛化能力。
公开/授权文献
- CN114418117A 用于少样本故障诊断的具有自适应学习率的元学习方法 公开/授权日:2022-04-29