- 专利标题: 一种基于化学机械抛光的多层陶瓷电容器及其制备方法
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申请号: CN202111477532.0申请日: 2021-12-06
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公开(公告)号: CN114446661B公开(公告)日: 2023-06-23
- 发明人: 耿文平 , 丑修建 , 薛刚 , 白桦 , 毕开西 , 张乐 , 侯晓娟 , 穆继亮 , 何剑
- 申请人: 中北大学
- 申请人地址: 山西省太原市尖草坪区学院路3号
- 专利权人: 中北大学
- 当前专利权人: 中北大学
- 当前专利权人地址: 山西省太原市尖草坪区学院路3号
- 代理机构: 北京清控智云知识产权代理事务所
- 代理商 管士涛
- 主分类号: H01G4/30
- IPC分类号: H01G4/30 ; H01G4/232 ; H01G4/005 ; H01G4/12 ; C04B41/89
摘要:
本申请提供了一种基于化学机械抛光的多层陶瓷电容器及其制备方法,通过在基板上生长SiO2牺牲层与陶瓷薄膜层,分别对陶瓷薄膜层进行化学机械抛光并溅射电极,将两块陶瓷薄膜层键合,再腐蚀SiO2牺牲层释放陶瓷薄膜层,对释放后的陶瓷薄膜层两端溅射电极,多次重复后浸封陶瓷薄膜层两端的电极后高温煅烧,得到多层陶瓷电容器。本申请结合化学机械抛光与间接键合的方法实现了多层陶瓷电容器的制造,避免了在流延法工艺流程中的温度控制,可以在常温中实现陶瓷薄膜的制备,减少了高温、冷却和干燥过程对薄膜品质和性能产生的不利影响,获得了高品质,低应力,高致密度的压电陶瓷薄膜;无需高温烧结过程,具有更低的操作温度,保障了陶瓷薄膜的成品率。
公开/授权文献
- CN114446661A 一种基于化学机械抛光的多层陶瓷电容器及其制备方法 公开/授权日:2022-05-06