Invention Grant
- Patent Title: 一种激光雷达的测距检测率的评估方法、装置及设备
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Application No.: CN202210410522.3Application Date: 2022-04-19
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Publication No.: CN114509744BPublication Date: 2022-07-26
- Inventor: 赵学思 , 崔桐 , 夏冰冰 , 石拓
- Applicant: 苏州一径科技有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市常熟市东南街道东南大道1150号
- Assignee: 苏州一径科技有限公司
- Current Assignee: 苏州一径科技有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市常熟市东南街道东南大道1150号
- Agency: 北京善任知识产权代理有限公司
- Agent 王大方; 孟桂超
- Main IPC: G01S7/497
- IPC: G01S7/497
Abstract:
本申请公开一种激光雷达的测距检测率的评估方法、装置及设备。该方法包括：获得不同发射角度的激光束在目标距离处的多个扫描点；遍历多个扫描点，获得每一个扫描点的光束接收通道在预设条件下的信噪比值；根据信噪比值，确定多个扫描点中满足测距精度的目标扫描点；根据多个扫描点的数量与目标扫描点的数量，确定激光雷达的测距检测率。在本申请中，通过获得激光雷达的测距检测率，实现对激光雷达测距能力的评估。
Public/Granted literature
- CN114509744A 一种激光雷达的测距检测率的评估方法、装置及设备 Public/Granted day:2022-05-17
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