发明公开
- 专利标题: 一种用于测量残余应力的临界折射纵波的设备和方法
-
申请号: CN202210066442.0申请日: 2022-01-20
-
公开(公告)号: CN114544778A公开(公告)日: 2022-05-27
- 发明人: 吕中宾 , 叶中飞 , 炊晓毅 , 李阳 , 刘泽辉 , 张博 , 伍川 , 刘光辉 , 陶亚光 , 马伦 , 张宇鹏 , 宋高丽 , 张帅
- 申请人: 国网河南省电力公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司 , 郑州大学
- 申请人地址: 河南省郑州市二七区嵩山南路85号; ;
- 专利权人: 国网河南省电力公司电力科学研究院,国家电网有限公司,郑州大学
- 当前专利权人: 国网河南省电力公司电力科学研究院,国家电网有限公司,郑州大学
- 当前专利权人地址: 河南省郑州市二七区嵩山南路85号; ;
- 代理机构: 苏州知途知识产权代理事务所
- 代理商 张锦波
- 主分类号: G01N29/07
- IPC分类号: G01N29/07 ; G01N29/22 ; G01L5/00
摘要:
本申请涉及公开了一种用于测量残余应力的临界折射纵波的设备和方法,在被测工件上设置第一压电晶片,用于激励临界折射纵波;在被测工件上设置第二压电晶片和第三压电晶片,用于接收临界折射纵波,第二压电晶片和第三压电晶片之间距离为L;设置示波器,用于获取第二压电晶片和第三压电晶片接受到的波形;通过示波器得出第二压电晶片和第三压电晶片之间的波的时间差t;根据t、L计算出被测工件上的临界折射纵波的传播速度v;根据预先建立的v和残余应力的关系式,计算被测工件中的残余应力。因此,可以通过临界折射纵波的速度来测量残余应力的大小,由于该探头可实现两个压电晶片接收,所以消除了耦合因素的影响,降低了检测误差。