发明公开
CN1146011A 光谱测定法、光学测量法和装置
无效 - 撤回
- 专利标题: 光谱测定法、光学测量法和装置
- 专利标题(英): Spectrometry and optical measuring method and apparatus
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申请号: CN96110359.0申请日: 1996-05-11
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公开(公告)号: CN1146011A公开(公告)日: 1997-03-26
- 发明人: 木村英一 , 柳井直树 , 盐见元信 , 芦边惠美 , 山崎丰 , 上野山晴三
- 申请人: 仓敷纺绩株式会社 , 株式会社京都第一科学
- 申请人地址: 日本冈山县
- 专利权人: 仓敷纺绩株式会社,株式会社京都第一科学
- 当前专利权人: 仓敷纺绩株式会社,株式会社京都第一科学
- 当前专利权人地址: 日本冈山县
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 张志醒; 王岳
- 优先权: 113020/95 1995.05.11 JP
- 主分类号: G01J3/457
- IPC分类号: G01J3/457
摘要:
在本发明的光学测量装置中,一个分光装置发出一束测量光束并将该光束分离成若干光束,分光装置发出的这束光束包含在其中一被测物吸收所述光的一部分的测量波长区的测量光部分和在其中该被测物几乎将所述光完全吸收率的参比波长区的参比光部分;一个光度测定装置测量当一参比样品被插入光束的光路中时照射在积分球上的光以便将测量值存储在存储器中并且还测量当一个被测物体被插入光束的光路中时照射在积分球上的光;而后,一个数学运算电路计算对被测物体的补偿光部分与存储在存储器中的补偿光部分的光强度比。接下去通过将存储在存储器中的测量值乘以该比值计算出测量过程中的背景强度。