- 专利标题: 一种基于阵列导波模式域秩损的结构损伤检测方法
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申请号: CN202210210301.1申请日: 2022-03-04
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公开(公告)号: CN114609253A公开(公告)日: 2022-06-10
- 发明人: 胡伟伟 , 王强 , 糜长军 , 杨新宝
- 申请人: 江苏广宇协同科技发展研究院有限公司 , 南京邮电大学
- 申请人地址: 江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座805室;
- 专利权人: 江苏广宇协同科技发展研究院有限公司,南京邮电大学
- 当前专利权人: 江苏广宇协同科技发展研究院有限公司,南京邮电大学
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦B座805室;
- 代理机构: 北京弘权知识产权代理有限公司
- 代理商 逯长明; 许伟群
- 主分类号: G01N29/44
- IPC分类号: G01N29/44 ; G01N29/04
摘要:
本发明公开了一种基于阵列导波模式域秩损的结构损伤检测方法。该方法基于均匀圆形导波阵列,受空间域中秩损理论的启发,使用额外的压电传感器构造秩损的必要条件,即降秩向量,考虑减小圆阵半径来创建与模式域中损伤位置相关的降秩向量。这表明在阵列导波的模式域中,可以解除空间域方向矢量中的损伤位置信息和通道相位误差之间的耦合关系,然后在模式域中基于秩损理论,利用降秩向量建立仅与相位误差相关的目标函数。然后,在校准通道相位误差的情况下,通过UCA‑ESPRIT算法估计结构损伤位置。该方法不需要冗余传感器或校准源。此外,它避免了多维迭代,且优于基于Schur积的方法,因为其对阵列孔径有更大的容忍度。
公开/授权文献
- CN114609253B 一种基于阵列导波模式域秩损的结构损伤检测方法 公开/授权日:2024-09-17