本发明公开了一种基于动态步长的模拟电路可靠性仿真方法，主要解决现有技术不能贴合器件实际退化情况，仿真精度和速度不能兼顾的问题。其实现方案是：从电路仿真输入文件中读取设定的退化时间T及s个步长；计算初始步长时间t0＝T/s,并将其赋值给各步长；输入器件退化模型函数，计算其随时间的退化速率函数f(t)；通过器件退化函数在不同时刻的退化速率f(t)对s个值为t0的步长进行放缩计算，得到一组动态步长；使用动态步长进行电路可靠性仿真，得到电路特征指标的退化结果。本发明提高了可靠性仿真精度，并通过设置仿真的步长数量，使得可靠性仿真时间变得预算可控，可用于预测电路性能随时间的退化关系及电路的寿命。