本发明公开了一种研究中性粒子对壁材料入射角度分布的辐照样品架，包括底座、固定压板、套筒和挡板。底座与固定压板均呈圆柱形，底座用于整个辐照样品架与托卡马克装置中样品板的固定；固定压板开有台阶圆孔，用于嵌装样品；套筒呈圆环形，可保护样品不受带电粒子的轰击；挡板上开有圆环形狭缝，狭缝半径、宽度与挡板到样品距离的比值决定了可以到达样品表面的中性粒子的入射角度范围，可以通过改变圆环形狭缝的半径使样品接受不同入射角度的中性粒子的辐照。本发明能够排除托卡马克装置中带电粒子对样品的影响，结合RBS分析方法精确获得不同入射角度的中性粒子对样品的腐蚀速率，深入研究中性粒子在壁材料表面入射角度分布规律。