发明公开
- 专利标题: 一种双反射面天线面形重构及获取方向图的方法
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申请号: CN202210532453.3申请日: 2022-05-12
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公开(公告)号: CN114818432A公开(公告)日: 2022-07-29
- 发明人: 孙伟 , 程志峰 , 郝会乾 , 王铮 , 夏立 , 曹江涛 , 王卓伦
- 申请人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 申请人地址: 河北省石家庄市中山西路589号第五十四所天线伺服专业部
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
- 当前专利权人地址: 河北省石家庄市中山西路589号第五十四所天线伺服专业部
- 代理机构: 河北东尚律师事务所
- 代理商 王文庆
- 主分类号: G06F30/23
- IPC分类号: G06F30/23 ; G06F30/10 ; H01Q15/14 ; H01Q19/10 ; G06F111/10
摘要:
本发明公开了一种双反射面天线面形重构及获取方向图的方法,属于天线测量技术领域。该方法包括:计算两种主反射面形变偏差值;基于37阶泽尼克多项式,获得泽尼克拟合系数向量;两组系数向量和泽尼克多项式组合,获得主反射面形变重构基本数据;以泽尼克系数向量和泽尼克多项式描述主反射面波前光程差,获得两种主反射面形变相位差与相位影响因子;计算馈源位置偏差下相位影响因子,馈源角度偏差下馈源方向图函数;计算理想天线远场方向图,两种主反射面形变时的远场方向图,馈源位置偏差下远场方向图,获得天线最终远场方向图的基本数据。本发明综合考虑天线结构变形对电性能的影响,提高了绘制天线远场方向图的精度。