Invention Grant
- Patent Title: 一种单像素光谱成像测量基自适应优化排序方法及系统
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Application No.: CN202210396581.XApplication Date: 2022-04-15
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Publication No.: CN114820283BPublication Date: 2024-08-02
- Inventor: 杨照华 , 赵梓栋 , 余远金 , 陈香 , 雷昊东 , 赵志浩 , 宋明悦 , 李平
- Applicant: 北京航空航天大学 , 北京理工大学
- Applicant Address: 北京市海淀区学院路37号;
- Assignee: 北京航空航天大学,北京理工大学
- Current Assignee: 北京航空航天大学,北京理工大学
- Current Assignee Address: 北京市海淀区学院路37号;
- Agency: 北京高沃律师事务所
- Agent 刘芳
- Main IPC: G06T1/60
- IPC: G06T1/60 ; G06T3/4007 ; G01J3/28
Abstract:
本发明涉及一种单像素光谱成像测量基自适应优化排序方法及系统,涉及单像素光谱成像领域,方法包括:获取图像数据集和第一参数;所述第一参数包括分辨率和采样率;根据所述分辨率构建Hadamard矩阵;对所述图像数据集进行预处理,得到数据矩阵;将所述数据矩阵和所述Hadamard矩阵相乘得到测量矩阵;将所述测量矩阵依次进行位置索引计算和拼接,得到索引矩阵;根据所述索引矩阵和所述第一参数确定索引向量;根据所述采样率、所述索引向量和所述Hadamard矩阵确定自适应编码矩阵。本发明通过对编码矩阵进行自适应优化来降低成像时间,提高成像和重构的效率。
Public/Granted literature
- CN114820283A 一种单像素光谱成像测量基自适应优化排序方法及系统 Public/Granted day:2022-07-29
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