发明公开
- 专利标题: 烃源岩有效厚度的确定方法、装置、设备及介质
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申请号: CN202110138375.4申请日: 2021-02-01
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公开(公告)号: CN114839685A公开(公告)日: 2022-08-02
- 发明人: 李风勋 , 杨帆 , 胡烨 , 李昂 , 潘文蕾
- 申请人: 中国石油化工股份有限公司 , 中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
- 申请人地址: 北京市朝阳区朝阳门北大街22号;
- 专利权人: 中国石油化工股份有限公司,中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
- 当前专利权人: 中国石油化工股份有限公司,中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区朝阳门北大街22号;
- 代理机构: 北京思创毕升专利事务所
- 代理商 孙向民; 廉莉莉
- 主分类号: G01V1/50
- IPC分类号: G01V1/50
摘要:
本发明公开了烃源岩有效厚度的确定方法、装置、电子设备及介质,该方法包括:分别获取已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度、岩性有效厚度和测井有效厚度;建立实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系;基于实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系和未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的测井有效厚度,计算未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度。本发明基于已知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度、岩性有效厚度和测井有效厚度,建立实测有效厚度与测井有效厚度的拟合关系,进而计算未知区域的非均质性地层烃源岩岩样的实测有效厚度,实现准确计算非均值地层烃源岩有效厚度。