本申请涉及一种测试设备对位计算方法、终端及存储介质，其方法包括以下步骤：建立基准点，所述基准点置于预设的第一测试治具和第二测试治具之间，并获取所述基准点相对于所述第一测试治具的第一基准信息；获取第二测试治具上的标记点，并获取所述标记点相对于第一测试治具的第一标记信息；对所述第一基准信息和所述第一标记信息进行分析，获得对位信息；基于所述对位信息获取所述标记点相对于所述第二测试治具的第二标记信息；基于所述第二标记信息对所述第二测试治具和待测件进行对位处理。本申请具有使得在对位测试时计算的测试治具与电路板的位置更加准确，减少调试时人工补偿的可能性的效果。