发明公开
- 专利标题: ADC静态参数测试方法及其在ADC测试中的应用
-
申请号: CN202210457568.0申请日: 2022-04-28
-
公开(公告)号: CN114844505A公开(公告)日: 2022-08-02
- 发明人: 付江铎 , 杨中 , 宋佳音 , 杨浩涵 , 陈文亚 , 黄一斌
- 申请人: 江苏集萃智能集成电路设计技术研究所有限公司
- 申请人地址: 江苏省无锡市新吴区菱湖大道111号无锡软件园天鹅座C座18楼
- 专利权人: 江苏集萃智能集成电路设计技术研究所有限公司
- 当前专利权人: 江苏集萃智能集成电路设计技术研究所有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省无锡市新吴区菱湖大道111号无锡软件园天鹅座C座18楼
- 代理机构: 无锡市汇诚永信专利代理事务所
- 代理商 郭慧
- 主分类号: H03M1/10
- IPC分类号: H03M1/10 ; H03H17/02
摘要:
本发明公开了一种ADC静态参数测试方法及其在ADC测试中的应用,可提升ADC的测试精度,处理前,采集ADC输出数据,对输出数据预处理,获得预处理数据,计算获得实际转换电平,计算静态参数INL初始估计值,采用卡尔曼滤波模型对静态参数INL初始估计值进行滤波,获得静态参数INL最优估计值,并计算静态参数DNL,在ADC测试中的应用步骤包括:在ADC输入端输入正弦信号,采集ADC输出数据,采用上述ADC静态参数测试方法对输出数据进行处理,获得静态参数INL的最优估计值、静态参数DNL,将静态参数INL的最优估计值、静态参数DNL分别与相应实际静态参数INL、实际静态参数DNL进行对比,根据对比结果判断测量精度。