发明公开
- 专利标题: 用于工业场景的细小微弱缺陷分割方法
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申请号: CN202210397331.8申请日: 2022-04-15
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公开(公告)号: CN114863098A公开(公告)日: 2022-08-05
- 发明人: 周瑜 , 龚石 , 周欢 , 白翔 , 郑增强 , 刘荣华
- 申请人: 华中科技大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 深圳市六加知识产权代理有限公司
- 代理商 向彬
- 主分类号: G06V10/26
- IPC分类号: G06V10/26 ; G06V10/40 ; G06V10/80 ; G06V10/764 ; G06V10/82 ; G06K9/62 ; G06N3/04 ; G06N3/08
摘要:
本发明公开了一种用于工业场景的细小微弱缺陷分割方法。所述方法包括以下步骤:利用深度卷积神经网络特征编码器对RGB图像进行多尺度特征提取来适应不同尺度的缺陷;特征解码器对特征编码器提取的多尺度图像特征进行融合上采样以尽可能保留细节信息,得到高分辨率高区分力的图像特征图;基于融合后的图像特征图,采用分类器对图像进行逐像素二分类,将图像中所有像素划分为正常像素和缺陷像素两类。本方法提出了一种将正常像素与缺陷像素损失平衡的目标函数,使模型更有效学习到细小微弱缺陷特征,大幅减少了对工业场景下细小微弱缺陷的漏检,实现了更准确的缺陷像素级分割。
公开/授权文献
- CN114863098B 用于工业场景的细小微弱缺陷分割方法 公开/授权日:2024-07-19