Invention Grant
- Patent Title: 一种基于分区符合技术的氚表面污染探测器及其测量方法
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Application No.: CN202210597116.2Application Date: 2022-05-30
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Publication No.: CN114966802BPublication Date: 2024-10-11
- Inventor: 杨阳 , 陈志林 , 赖财锋 , 陈平 , 黄坡
- Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
- Applicant Address: 四川省绵阳市绵山路64号
- Assignee: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
- Current Assignee: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
- Current Assignee Address: 四川省绵阳市绵山路64号
- Agency: 中国工程物理研究院专利中心
- Agent 仲万珍
- Main IPC: G01T1/167
- IPC: G01T1/167 ; G01T1/20
Abstract:
本发明公开了一种基于分区符合技术的氚表面污染探测器及其测量方法,所述探测器包括保护窗、探测器外壳、闪烁体、光导、光阴极、微通道板、密封罩、阳极、符合电路、输入电极和输出电极,本发明中的阳极由多个同心电极圆环耦合构成,并且多个同心电极圆环间隔分为两组。本发明公开的探测器基于分区符合技术以及超薄闪烁体有效抑制了表面污染氚测量过程中的本底信号,降低表面弱氚信号的探测下限,本发明探测器的探测下限可低至0.1Bq/cm2;本发明公开的方法无需工作气体,无需制样,即可实现大面积氚表面污染的快速测量,探测过程简单易操作,能够满足目前我国大型涉氚装置表面氚污染的快速探测。
Public/Granted literature
- CN114966802A 一种基于分区符合技术的氚表面污染探测器及其测量方法 Public/Granted day:2022-08-30
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