发明授权

试样系统
摘要:
本发明涉及一种具有多个元件的用于测试测量系统的系统,借此可以形成由多个接连和/或并排布置的容纳件或间隔件组成的行列,其中,所述容纳件具有用于容纳单独的测试砝码的多个凹处。
公开/授权文献
0/0