发明授权
- 专利标题: 一种中子管靶的靶膜的制备方法
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申请号: CN202210557456.2申请日: 2022-05-19
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公开(公告)号: CN115058692B公开(公告)日: 2023-09-15
- 发明人: 梁斌斌 , 巴伟伟 , 王子默 , 彭怡刚
- 申请人: 原子高科股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区厂洼中街66号1号楼二层南部201室
- 专利权人: 原子高科股份有限公司
- 当前专利权人: 原子高科股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区厂洼中街66号1号楼二层南部201室
- 代理机构: 北京路浩知识产权代理有限公司
- 代理商 刘璞
- 主分类号: C23C14/32
- IPC分类号: C23C14/32 ; C23C14/34 ; C23C14/54 ; C23C14/02 ; C23C14/16
摘要:
本发明涉及中子管靶制备技术领域,具体涉及一种中子管靶的靶膜的制备方法。制备方法包括:采用离子镀膜技术,在基底表面制备10~30nm的打底膜层;采用溅射镀膜技术叠加离子源辅助沉积技术,依次在所述打底膜层的表面制备厚度为50~100nm、晶粒为等轴晶的过渡膜层;0.5~10μm、晶粒为柱状晶的功能膜层;以及10~20nm的保护膜层;其中,打底膜层、过渡膜层、功能膜层的材料选自钛、钼、钪中的一种或多种;保护膜层的材料为惰性金属。本发明充分利用了多种工艺的优势,能够满足各膜层晶体结构、致密性以及功能方面的不同要求。含有本发明的多层致密靶膜的中子管靶中子产额高。
公开/授权文献
- CN115058692A 一种中子管靶的靶膜的制备方法 公开/授权日:2022-09-16
IPC分类: