发明授权
- 专利标题: 相位移相精度测试方法和装置
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申请号: CN202211002376.7申请日: 2022-08-22
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公开(公告)号: CN115085828B公开(公告)日: 2022-11-22
- 发明人: 陈瑞 , 王曾祺 , 陆建华
- 申请人: 上海安其威微电子科技有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张东路1387号51幢02栋
- 专利权人: 上海安其威微电子科技有限公司
- 当前专利权人: 上海安其威微电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张东路1387号51幢02栋
- 代理机构: 上海华诚知识产权代理有限公司
- 代理商 肖华
- 主分类号: H04B17/15
- IPC分类号: H04B17/15 ; H04B17/29
摘要:
本申请提供了一种相位移相精度测试电路及方法,通过向第一通道输入第一信号,对第二通道中的具备移相功能的待测件输入第二信号,第一信号的频率和第二信号的频率不同,通过控制器向具备移相功能的待测件依次配置第一初始移相度数、第二初始移相度数,合成器将第一通道的输出信号和第二通道的输出信号进行合成,输出第一合成信号和第二合成信号,通过包络检波器提取第一合成信号、第二合成信号的包络,并根据包络确定待测件的初始移相度数与实际移相度数的差值。该包络检波的方法能够精确的提取出待测通道中移相器件的移相度数,将高频信号的相位测试转换为低频包络信号的测试。具备移相测试精度高、测试链路简便可靠、测试效率提升的优势。
公开/授权文献
- CN115085828A 相位移相精度测试方法和装置 公开/授权日:2022-09-20