发明公开
- 专利标题: 检查系统和方法
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申请号: CN202110770903.8申请日: 2021-07-07
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公开(公告)号: CN115113289A公开(公告)日: 2022-09-27
- 发明人: 陈志强 , 张丽 , 黄清萍 , 周勇 , 丁辉 , 金鑫 , 季超
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层;
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层;
- 代理机构: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
- 代理商 白少俊
- 主分类号: G01V5/00
- IPC分类号: G01V5/00 ; G01N23/046
摘要:
本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统,包括:至少一个射线源,能够围绕旋转轴线在至少两个扫描位置之间转动并且在相邻两个扫描位置之间的转动角度大于每个射线源的相邻靶点相对于旋转轴线的角度;探测器组件和输送装置,用于承载被检查的物体。检查系统构造成使得至少一个射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动,从而被检查的物体能够所述检查区域。当至少一个射线源位于多个扫描位置中的一个时,至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且至少一个射线源发射X射线;当至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后,至少一个射线源围绕旋转轴线转动到多个扫描位置中的另一个。
公开/授权文献
- CN115113289B 检查系统和方法 公开/授权日:2024-04-26