Invention Publication
- Patent Title: 一种核用EPDM密封圈寿命评估方法
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Application No.: CN202211058326.0Application Date: 2022-08-30
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Publication No.: CN115127987APublication Date: 2022-09-30
- Inventor: 周城 , 杨刚 , 陈夏
- Applicant: 中广核三角洲(太仓)检测技术有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市太仓市锦州路18号
- Assignee: 中广核三角洲(太仓)检测技术有限公司
- Current Assignee: 中广核三角洲(太仓)检测技术有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市太仓市锦州路18号
- Agency: 苏州创元专利商标事务所有限公司
- Agent 陈昊宇
- Main IPC: G01N17/00
- IPC: G01N17/00

Abstract:
一种核用EPDM密封圈寿命评估方法,包括:调节老化试验箱内的目标温度为a1,每隔一单位时间取出一老化样品;测试原始样品与各老化样品的压缩应力松弛数值,计算各老化样品的CSR;拟合得到老化时间的值τCSRa1,老化温度TCSRa1;重复操作,分别得到其他温度的τCSRa2、τCSRa3……τCSRan及TCSRa2、TCSRa3……TCSRan;然后,将τCSRa1、τCSRa2、τCSRa3……τCSRan与TCSRa1、TCSRa2、TCSRa3……TCSRan作lnτ与1/T的坐标图,拟合得到使用寿命和热氧加辐照老化温度的线性函数。本发明可对核用密封圈的热氧老化、热辐照老化状态有效评估。
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