发明公开
- 专利标题: 一种核用EPDM密封圈寿命评估方法
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申请号: CN202211058326.0申请日: 2022-08-30
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公开(公告)号: CN115127987A公开(公告)日: 2022-09-30
- 发明人: 周城 , 杨刚 , 陈夏
- 申请人: 中广核三角洲(太仓)检测技术有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市太仓市锦州路18号
- 专利权人: 中广核三角洲(太仓)检测技术有限公司
- 当前专利权人: 中广核三角洲(太仓)检测技术有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市太仓市锦州路18号
- 代理机构: 苏州创元专利商标事务所有限公司
- 代理商 陈昊宇
- 主分类号: G01N17/00
- IPC分类号: G01N17/00
摘要:
一种核用EPDM密封圈寿命评估方法,包括:调节老化试验箱内的目标温度为a1,每隔一单位时间取出一老化样品;测试原始样品与各老化样品的压缩应力松弛数值,计算各老化样品的CSR;拟合得到老化时间的值τCSRa1,老化温度TCSRa1;重复操作,分别得到其他温度的τCSRa2、τCSRa3……τCSRan及TCSRa2、TCSRa3……TCSRan;然后,将τCSRa1、τCSRa2、τCSRa3……τCSRan与TCSRa1、TCSRa2、TCSRa3……TCSRan作lnτ与1/T的坐标图,拟合得到使用寿命和热氧加辐照老化温度的线性函数。本发明可对核用密封圈的热氧老化、热辐照老化状态有效评估。