- 专利标题: 聚酰亚胺过孔及晶圆级半导体封装结构的制备方法
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申请号: CN202211068622.9申请日: 2022-09-02
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公开(公告)号: CN115132591B公开(公告)日: 2022-11-29
- 发明人: 刘翔 , 尹佳山 , 周祖源 , 薛兴涛 , 林正忠
- 申请人: 盛合晶微半导体(江阴)有限公司
- 申请人地址: 江苏省无锡市江阴市东盛西路9号
- 专利权人: 盛合晶微半导体(江阴)有限公司
- 当前专利权人: 盛合晶微半导体(江阴)有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省无锡市江阴市东盛西路9号
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 余明伟
- 主分类号: H01L21/48
- IPC分类号: H01L21/48
摘要:
本发明提供一种聚酰亚胺过孔及晶圆级半导体封装结构的制备方法,聚酰亚胺过孔的制备方法包括:S1:提供表面附有金属焊盘的基板;S2:于基板上形成聚酰亚胺层;S3:于聚酰亚胺层上形成金属层;S4:于金属层上形成预设层,并于预设层上形成第一预过孔;S5:刻蚀金属层形成第二预过孔;S6:刻蚀聚酰亚胺层形成第三预过孔;S7:去除聚酰亚胺层之上的所有结构,以于聚酰亚胺层上形成聚酰亚胺过孔。本发明避免了小尺寸聚酰亚胺过孔底部存在残留物的问题,使得聚酰亚胺过孔上下轮廓基本一致,制备工艺精细化,从而提高了产品的良率;本发明在晶圆级半导体封装中,较小的聚酰亚胺过孔可以使产品设计更加复杂和细致,大大提高了芯片性能。
公开/授权文献
- CN115132591A 聚酰亚胺过孔及晶圆级半导体封装结构的制备方法 公开/授权日:2022-09-30
IPC分类: