本发明提供了一种基于三维扫描的绝缘子结构参数测量系统及方法。该装置包括：支撑架；第一卡接件，设置在支撑架上；第二卡接件，位于第一卡接件的下方且可移动地设置在支撑架上，第二卡接件与第一卡接件之间间隔设置；测量探头，设置在支撑架的一侧；数据处理模块，与测量探头连接。本发明中通过第一卡接件与绝缘子的脚球卡接；通过第二卡接件与绝缘子的帽窝卡接，第二卡接件以沿竖直方向进行上下移动的方式与支撑架相连接，使得绝缘子张紧卡固在第一卡接件和第二卡接件上；通过测量测头获取第一标识结构和第二标识结构之间的距离；通过数据处理模块基于测量测头反馈的数据，计算绝缘子的结构高度，以解决绝缘子结构高度难以测量的问题。