Invention Publication
- Patent Title: 射线检查设备、以及检查目标的方法
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Application No.: CN202110344211.7Application Date: 2021-03-30
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Publication No.: CN115144920APublication Date: 2022-10-04
- Inventor: 陈志强 , 张丽 , 程熠 , 黄清萍 , 洪明志 , 邱明华 , 张瑶 , 杨建学 , 郑磊
- Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区清华园1号;
- Assignee: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清华园1号;
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Agent 孙纪泉
- Main IPC: G01V5/00
- IPC: G01V5/00

Abstract:
提供一种射线检查设备以及检查目标的方法。射线检查设备包括:支撑框架,所述支撑框架内形成适用于检查目标的检查空间,所述检查空间具有与外部连通的第一开口;传输机构,适用于承载所述目标穿过所述检查空间移动;屏蔽门帘,安装在所述第一开口处;以及驱动机构。驱动机构包括:驱动器,安装在所述支撑框架上;以及结合部,所述屏蔽门帘的上端连接至所述结合部。所述驱动器被构造成同步驱动所述结合部的两端,使得所述屏蔽门帘随所述结合部上下移动,以打开或者关闭所述第一开口。由于驱动机构驱动屏蔽门帘的升降,可以确保重量较轻的目标能够顺利进入到检查空间中以进行后续的射线扫描检查。
Public/Granted literature
- CN115144920B 射线检查设备、以及检查目标的方法 Public/Granted day:2023-11-03
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