一种半导体器件用电极的制造方法及半导体器件
摘要:
本申请公开了一种半导体器件用电极的制造方法及半导体器件,所述方法包括:在电极本体上设置焊区;在所述焊区上设置覆盖所述焊区的第一指示区;在所述第一指示区上设置覆盖所述第一指示区的第一透光保护区;去除所述第一透光保护区和第一指示区。本申请还公开了一种采用所述方法而制得的半导体器件。本申请可以仅通过显微镜就能判断出焊区处的保护层是否完全去除,无需对焊区进行电阻测试,从而减少了测试步骤,有利于节省时间。
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