本申请公开了一种基于斜交偏光的孔隙识别方法、电子设备及介质。该方法可以包括：通过单偏光观察，判断储集空间与其周围矿物的差异；若储集空间与其周围矿物的差异小，则进行正交偏光观察，识别矿物类型，判断孔隙发育程度；调整偏光片的角度，进行斜交偏光观察，识别孔隙。本发明通过调整偏光显微镜的偏光片位置，形成斜交偏光，辅以矿物试板使用，在合适光线状态下“突显”孔隙，又不影响矿物鉴定和孔隙类型判识，便于人工鉴定统计或采集图像进行软件定量分析。