本申请涉及一种钛酸钡基多层陶瓷电容器的可靠性分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，获取待检测电容器在第一温度下的第一测试参数；获取待检测电容器在第二温度下的第二测试参数；将待检测电容器固封，制作切片，切片垂直与待检测电容器的内层电极；对切片进行X射线照射，获取切片的钛酸钡陶瓷介质区域的X射线光电子能谱，根据X射线光电子能谱，确定待检测电容器的可靠性分析结果。通过对待检测电容器的常温状态和高温状态进行分析，对待检测电容器的可靠性进行初步判断。根据对待检测电容器的X射线光电子能谱进行分析，分析待检测电容器中钛酸钡介质的绝缘性能，进而准确确定待检测电容器的可靠性和使用寿命。