发明公开
CN115276836A 一种紧缩场测试系统
审中-实审
- 专利标题: 一种紧缩场测试系统
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申请号: CN202210841548.3申请日: 2022-07-18
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公开(公告)号: CN115276836A公开(公告)日: 2022-11-01
- 发明人: 李俊 , 董晓鹏 , 刘列 , 于伟
- 申请人: 深圳市通用测试系统有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市宝安区航城街道九围社区洲石路564号开大玩具厂厂房整套
- 专利权人: 深圳市通用测试系统有限公司
- 当前专利权人: 深圳市通用测试系统有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市宝安区航城街道九围社区洲石路564号开大玩具厂厂房整套
- 代理机构: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司
- 代理商 郭燕; 彭家恩
- 主分类号: H04B17/00
- IPC分类号: H04B17/00 ; H04B17/391
摘要:
一种紧缩场测试系统,涉及无线测试领域,包括屏蔽腔体、测试天线和反射面部件,屏蔽腔体用于提供紧缩场测试环境;测试天线设置于屏蔽腔体内,用于发射信号和/或接收信号;反射面部件用于将测试天线所发射的测试信号转换成均匀信号并反射至无线设备来接收;和/或用于将被测无线设备所发射的测试信号反射并聚焦至测试天线来接收;反射面部件以第一方式设置于屏蔽腔体的第一位置,以使得均匀信号以第一倾斜角度反射,第一倾斜角度与竖直面的角度大于0度且小于90度。本申请在被限制空间距离的紧缩场测试系统中,保证了被测无线设备尽可能大的测试距离,提高了被测无线设备的无线性能的测试精度。