• 专利标题: 基于体二极管反向恢复时间的功率MOSFET结温检测系统及方法
  • 申请号: CN202211028617.5
    申请日: 2022-08-25
  • 公开(公告)号: CN115389895A
    公开(公告)日: 2022-11-25
  • 发明人: 徐国卿夏蕾魏伟伟
  • 申请人: 上海大学
  • 申请人地址: 上海市宝山区上大路99号
  • 专利权人: 上海大学
  • 当前专利权人: 上海大学
  • 当前专利权人地址: 上海市宝山区上大路99号
  • 代理机构: 上海上大专利事务所
  • 代理商 何文欣
  • 主分类号: G01R31/26
  • IPC分类号: G01R31/26
基于体二极管反向恢复时间的功率MOSFET结温检测系统及方法
摘要:
本发明公开了一种基于体二极管反向恢复时间的功率MOSFET结温检测系统及检测方法,基于结温标定实验获取的参数构建功率MOSFET体二极管关断时刻前向电流‑反向恢复时间‑结温的三维模型,检测并记录待测功率MOSFET器件在实际工况中运行时的工作参数,实现对其结温的预估。本发明以功率MOSFET体二极管的反向恢复时间为特征参数对其结温进行检测,该方法利用功率MOSFET固有的体二极管结构,简单可靠,准确性高,解决了功率MOSFET结温检测困难的问题,能保证器件及电力电子系统的稳定安全运行,具备一定的可发展性。
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