本公开涉及集成电路技术领域，具体涉及一种晶体管宽度的确定方法、装置、电子设备及介质，所述晶体管宽度的确定方法包括：获取由多级逻辑电路单元组成的目标电路中第i级逻辑电路单元的第一相对尺寸和第二相对尺寸；基于所述第i级逻辑电路单元的第一相对尺寸和第二相对尺寸，确定所述第i级逻辑电路单元的晶体管的目标宽度。该方案可以在无需仿真的前提下，根据获取到的目标宽度，调整任一级逻辑电路单元的晶体管的尺寸，以对电路进行优化，从而降低了电路优化的成本。