- 专利标题： 不良检测装置、方法、电子设备及计算机可读存储介质
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申请号： CN202110581556.4申请日： 2021-05-26
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公开(公告)号： CN115406904B公开(公告)日： 2024-07-05
- 发明人: 唐浩 , 刘一泽 , 程久阳 , 蒋国 , 周全国 , 张青 , 朱学辉 , 周铄 , 徐丽蓉
- 申请人： 京东方科技集团股份有限公司
- 申请人地址： 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- 专利权人： 京东方科技集团股份有限公司
- 当前专利权人： 京东方科技集团股份有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- 代理机构： 北京润泽恒知识产权代理有限公司
- 代理商 李娜
- 主分类号： G01N21/95
- IPC分类号： G01N21/95 ; G01N21/01
摘要：
本申请提供了一种不良检测装置、不良检测方法、电子设备及计算机可读存储介质，其中，不良检测装置用于检测透明基板，不良检测装置中的第一图像生成装置靠近第一表面设置，通过第一图像生成装置采集透明基板的第一图像；第二图像生成装置靠近第二表面设置，通过第二图像生成装置采集透明基板的第二图像，然后根据第一图像和第二图像，确定不良检测结果。
公开/授权文献
- CN115406904A 不良检测装置、方法、电子设备及计算机可读存储介质 公开/授权日：2022-11-29
