本发明涉及一种RAM区辐照效应的异常检测方法，包括步骤：在堆区创建测试验证区，并将堆区的数据初始化；将选取地址内的堆区RAM设置成EDAC模式，以将该区域的数据进行EDAC编码后写入实际物理内存；读取堆区内容，判断是否产生EDAC校验错误；当发生EDAC校验错误后，对EDAC编码的内容进行解码，以将结果进行显示。本发明还提供一种存储介质及一种RAM区辐照效应的异常检测系统，采用本发明所述的RAM区辐照效应的异常检测方法、存储介质及系统实现了通过软件的方式模拟异常检测并进行量化。