- 专利标题: 一种多台面密度仪同点扫描偏差检测及自动纠正的方法
-
申请号: CN202211421238.2申请日: 2022-11-15
-
公开(公告)号: CN115479542B公开(公告)日: 2023-02-28
- 发明人: 葛铭 , 张烩 , 沈井学
- 申请人: 杭州百子尖科技股份有限公司
- 申请人地址: 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-2号11幢902室
- 专利权人: 杭州百子尖科技股份有限公司
- 当前专利权人: 杭州百子尖科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-2号11幢902室
- 代理机构: 浙江杭州金通专利事务所有限公司
- 代理商 刘晓春
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00 ; G01N9/00 ; B05C11/10
摘要:
本发明提供了一种多台面密度仪同点扫描偏差检测及自动纠正的方法,所述方法包括以下步骤:(1)对需涂层的薄片对象设置横向记号;(2)当横向记号经过位于前部的1号面密度仪时,记录1号面密度仪探头在横向上的位置和运动方向,位于1号面密度仪之后的2号面密度仪在同一时刻开始起算横向记号到达2号面密度仪探头的时间;(3)当横向记号到达2号面密度仪时,记录2号面密度仪探头在横向上的位置和运动方向,计算补偿值;(4)2号面密度仪按照所述补偿值控制2号面密度仪的驱动探头的伺服驱动电机运行。本发明可以用较少的人力和物料资源对锂电极片涂布产线上的多架面密度仪系统进行探头同点扫描偏差的检测及自动纠正。
公开/授权文献
- CN115479542A 一种多台面密度仪同点扫描偏差检测及自动纠正的方法 公开/授权日:2022-12-16