发明公开
- 专利标题: 一种离子束加工过程中光学镜面温度控制方法及测控系统
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申请号: CN202210977493.9申请日: 2022-08-15
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公开(公告)号: CN115480598A公开(公告)日: 2022-12-16
- 发明人: 王永刚 , 李文卿 , 孟晓辉 , 李昂 , 于秋跃 , 王兆明 , 王国艳 , 李春林
- 申请人: 北京空间机电研究所
- 申请人地址: 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱
- 专利权人: 北京空间机电研究所
- 当前专利权人: 北京空间机电研究所
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱
- 代理机构: 中国航天科技专利中心
- 代理商 庞静
- 主分类号: G05D23/22
- IPC分类号: G05D23/22 ; G06F30/20
摘要:
一种离子束加工过程中光学镜面温度控制方法及测控系统,属于高精度非球面光学制造领域。其中,此控制方法包括基于点热源在物体内的能量沉积理论,建立面热源能量沉积模型;根据面热源能量沉积模型,依次对光学零件镜面能量沉积过程进行静态分析及动态分析,优化离子源工艺参数;通过对光学加工过程的离散化设计或对循环的加工路径稀疏化处理,降低温度累积。通过应用此控制方法,可以实现离子束对温度敏感的高精度光学零件、组件级光学产品的高效、高精度加工。
公开/授权文献
- CN115480598B 一种离子束加工过程中光学镜面温度控制方法及测控系统 公开/授权日:2023-09-29