本申请公开了一种确定设备健康参数的方法装置、设备及介质，所述设备包括板卡，所述板卡包括功能电路，所述功能电路包括元器件；所述方法包括：根据所述元器件的失效机理，确定影响所述元器件的失效模式的第一参数；从所述第一参数中确定可参考程度的分数大于预设分数的目标参数，所述可参考程度的分数通过客观数据评分得到，所述可参考程度的分数与所述客观数据的维度个数正相关；根据所述目标参数对所述功能电路的失效模式的影响，从所述目标参数中确定第二参数；根据所述第二参数对所述板卡的失效模式的影响，从所述第二参数中确定所述健康参数。如此，该方法能够较低成本并且准确地确定设备健康参数。