本发明涉及存储技术领域，尤其公开了一种元数据校验方法、系统、计算机设备及存储介质，方法包括：响应于硬盘上电，对所述硬盘的所有元数据进行分块，并计算每块元数据的一级初始校验值，得到一级初始校验集；对所述一级初始校验集进行计算得到二级初始校验集；开启第一定时器，并设置离散校验周期；按所述离散校验周期触发元数据离散校验逻辑以基于所述二级初始校验集对所述元数据进行离散校验；响应于所述元数据的离散校验通过，则触发元数据巡检逻辑以基于所述一级初始校验集对所述元数据进行巡检。通过本发明的方案，实现了在硬盘运行过程中对元数据的检查，能够及时发现异常元数据，以此来保证数据的完备性和正确性。