Invention Publication
- Patent Title: 盆式绝缘子表面单个金属颗粒缺陷局部放电阶段评估方法
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Application No.: CN202211156785.2Application Date: 2022-09-21
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Publication No.: CN115524587APublication Date: 2022-12-27
- Inventor: 常文治 , 杜非 , 袁帅 , 毕建刚 , 云峰 , 刘慧鑫 , 陈敏维 , 阮莹 , 许渊 , 是艳杰 , 付德慧
- Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网福建省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区清河小营东路15号; ;
- Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,国网福建省电力有限公司电力科学研究院,国家电网有限公司
- Current Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,国网福建省电力有限公司电力科学研究院,国家电网有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清河小营东路15号; ;
- Agency: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- Agent 姜丽楼
- Main IPC: G01R31/12
- IPC: G01R31/12

Abstract:
本发明公开了一种盆式绝缘子表面单个金属颗粒缺陷局部放电阶段评估方法。其中,方法包括:在盆式绝缘子上设置单个金属颗粒的缺陷模型,通过升压法进行局部放电试验,采集各个放电阶段的放电指纹特征向量,其中放电指纹特征向量包括局部放电相位宽度、正负半周放电次数之比、正负半周平均放电幅值之比、放电幅值熵值、最大放电幅值熵值、Vmax‑φ谱图负半周偏斜度、放电时间间隔的均值以及⊿ui分布谱图的盒维数;分别计算各个放电阶段的聚类中心;计算提取的待诊断单个金属颗粒盆式绝缘子的局部放电指纹特征向量到各个放电阶段的聚类中心的欧氏距离平方;选取欧氏距离平方中最小值对应的放电阶段作为待诊断单个金属颗粒盆式绝缘子的放电阶段。
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