本发明公开了一种定位装置及光学系统测试设备，其属于光学测试技术领域，定位装置包括承载平台、固定块、滑动块和锁紧组件，承载平台具有参考平面，参考平面上设置有若干条刻度线；固定块与承载平台固定连接，固定块具有第一定位面，第一定位面与一条刻度线对齐；滑动块与承载平台滑动连接，滑动块具有第二定位面，第二定位面能够与另一条刻度线对齐，待定位件能够夹设于第一定位面与第二定位面之间；锁紧组件与滑动块连接，锁紧组件能够被按压和释放以选择性锁紧滑动块与承载平台。光学系统测试设备包括如上所述的定位装置。在定位过程中，只需移动和锁紧滑动块，减少定位时间，且有刻度线做参考，提高定位精度的同时能够保护待定位件。