Invention Publication
- Patent Title: 一种绝缘子污秽成分检测方法及装置
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Application No.: CN202211330854.7Application Date: 2022-10-26
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Publication No.: CN115598135APublication Date: 2023-01-13
- Inventor: 李宗红 , 刘荣海 , 孔旭晖 , 邱方程 , 郭新良 , 何运华 , 宋玉锋 , 杨雪滢 , 程雪婷 , 张少杰 , 李寒煜 , 郑欣 , 陈国坤 , 周静波 , 许宏伟 , 代克顺 , 彭詠涛
- Applicant: 云南电网有限责任公司电力科学研究院(CN)
- Applicant Address: 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
- Assignee: 云南电网有限责任公司电力科学研究院(CN)
- Current Assignee: 云南电网有限责任公司电力科学研究院(CN)
- Current Assignee Address: 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
- Agency: 深圳中细软知识产权代理有限公司
- Agent 袁文英
- Main IPC: G01N21/88
- IPC: G01N21/88 ; G01N21/3581 ; G01N21/01

Abstract:
本申请提出一种绝缘子污秽成分检测装置,包括:激光器;设置于激光器的输出光路上,被配置为将激光器输出的激光光束按预设比例分为泵浦光和探测光的分束器;设置于分束器的透射光路上,被配置为将泵浦光进行多次反射和调节光学延迟时间的时间延迟模块;设置于时间延迟模块的输出光路上,被配置为在泵浦光的作用下输出太赫兹波的光学透镜模块;设置于光学透镜模块的输出光路上,被配置为将太赫兹波从绝缘子的待测污秽透过的光传导发射器;被配置为在同时接收到透过待测污秽的太赫兹波和探测光后,输出时域脉冲信号的光电导探测器;以及与光电导探测器的输出端连接,被配置为接收时域脉冲信号并确定待测污秽的成分的分析模块。
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