Invention Grant
- Patent Title: 直流固态断路器的功率管老化测试装置及其测试方法
-
Application No.: CN202211219636.6Application Date: 2022-10-08
-
Publication No.: CN115598485BPublication Date: 2023-12-01
- Inventor: 余彬 , 周旺平 , 蔡骏 , 曹一涵 , 连静
- Applicant: 南京信息工程大学
- Applicant Address: 江苏省南京市江北新区宁六路219号
- Assignee: 南京信息工程大学
- Current Assignee: 南京信息工程大学
- Current Assignee Address: 江苏省南京市江北新区宁六路219号
- Agency: 南京纵横知识产权代理有限公司
- Agent 韩红莉
- Main IPC: G01R31/26
- IPC: G01R31/26 ; G01R31/327
Abstract:
本发明公开了直流固态断路器的功率管老化测试装置及其测试方法，针对直流固态断路器短路限流工况，提出功率管老化测试装置和测试方法，本发明利用实际工况下功率管额定导通阶段的导通电阻和驱动电压，以及限流阶段的驱动电压平均值全面在线原位监测功率管老化程度。本发明相比其他功率管的老化测试装置和测试方法，具有老化测试效率高、可以全面在线原位表征功率管老化程度、特别适合直流固态断路器短路限流工况下的功率管老化测试的特点。
Public/Granted literature
- CN115598485A 直流固态断路器的功率管老化测试装置及其测试方法 Public/Granted day:2023-01-13
Information query
