本发明属于图像处理技术领域，具体涉及一种基于光场图像自适应聚焦处理的联合检测和测距方法，包括以下步骤：步骤1)，对光场原始数据进行解码、颜色校正等预处理操作以获取光场图像；步骤2)，利用空间域重聚焦技术，改变调焦系数λ以获取目标场景的重聚焦图像序列；步骤3)，利用改进MR算法对光场图像的子孔径阵列中心视角图像提取显著性特征定位目标物体；步骤4)，利用清晰度评价函数选取重聚焦图像序列中测量窗口内最清晰的图像；步骤5)，最后利用标记贴片法实现光场图像目标场景的快速目标直接测距；本发明针对将所检测到的侵限异物进行测距的需求，提出了一种基于构建自适应聚焦度测量窗口快速获取场景中目标准确位置信息的方法。